鈷內(nèi)標(biāo)應(yīng)用的原理：
X射線熒光光譜分析有玻璃熔融片和粉末壓片兩種方法。X射線熒光光譜分析在鐵礦石主、次成分分析中已經(jīng)成為一種不可或缺的手段。其中，玻璃熔融片法是一種較為精確的分析方法，可消除粒度效應(yīng)和礦物效應(yīng)，降低基體效應(yīng)，適用于不同類型的鐵礦石。而在鐵礦石成分分析中，熒光光譜法與化學(xué)分析法相比準(zhǔn)確性稍有欠缺，因此我們提出了內(nèi)標(biāo)法，以計(jì)算得出元素濃度、函數(shù)的濃度，從而補(bǔ)償吸收增強(qiáng)效應(yīng)和儀器漂移的影響。。
內(nèi)標(biāo)法X射線分析中，常采用X射線管靶線的康普頓散射線作為內(nèi)標(biāo)。鐵礦石的復(fù)雜多樣性使得其各元素的含量難以預(yù)測(cè)。在使用玻璃片熔融法進(jìn)行鐵礦石X射線熒光光譜分析時(shí)，常出現(xiàn)異常偏離的現(xiàn)象，即使通過(guò)對(duì)熔融制片和校正工作曲線的處理也難以消除這種影響，導(dǎo)致對(duì)礦石中鐵元素的測(cè)定不準(zhǔn)確。但是，采用鈷內(nèi)標(biāo)法進(jìn)行試驗(yàn)，可以顯著提高結(jié)果的準(zhǔn)確性和質(zhì)量。
鈷內(nèi)標(biāo)法的應(yīng)用特點(diǎn):
使用康普頓散射線作為內(nèi)標(biāo)進(jìn)行X射線熒光光譜分析的方法是一種簡(jiǎn)單快捷的方法，無(wú)需添加內(nèi)標(biāo)元素，即可進(jìn)行X熒光儀軟件設(shè)置。但是這種方法受熒光儀的影響較大，容易受到探測(cè)管、X光管、電路板的老化等因素的影響，造成結(jié)果的不準(zhǔn)確。為了克服這些缺點(diǎn)，可以采用鈷內(nèi)標(biāo)法。鈷和鐵兩種元素原子序數(shù)相近，具有相似的物理和化學(xué)性質(zhì)。在鐵礦石中，鈷元素的含量很少，因此使用鈷元素和鐵元素進(jìn)行X射線熒光光譜分析，可以有效消除鐵及其他元素的影響。內(nèi)標(biāo)法是一種相對(duì)校準(zhǔn)方法，在試驗(yàn)過(guò)程中需要保證內(nèi)標(biāo)物質(zhì)在分析樣品中的含量。